我(wo)們常看到的一些3C產品，里(li)面都有(you)安裝鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)具(ju)有(you)高(gao)能(neng)量密(mi)度(du)、高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無記憶效應等(deng)優點(dian)，是(shi)21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)可廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可穿戴設備等(deng)領域3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)容易(yi)因短路(lu)、過充等(deng)原因燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)是(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)制造(zao)和組裝的重要環節，是(shi)實現(xian)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)性能(neng)和安全(quan)靠(kao)譜使用的有(you)力保障，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試(shi)項目主要包(bao)括一致性、功能(neng)性、安全(quan)性、靠(kao)譜性和工況模擬。

　　3C鋰電池(chi)(chi)測(ce)試(shi)對電池(chi)(chi)測(ce)試(shi)模塊的(de)(de)選擇(ze)很重(zhong)要。目前市場上廣泛使(shi)用(yong)的(de)(de)電池(chi)(chi)測(ce)試(shi)模塊有兩(liang)種(zhong)(zhong)，一(yi)種(zhong)(zhong)是凱智(zhi)通大電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊，另一(yi)種(zhong)(zhong)是pogo pin探針(zhen)模塊。通過比較兩(liang)者的(de)(de)優缺點，我們可以更(geng)直觀地區分哪一(yi)個更(geng)符合要求3C鋰電池(chi)(chi)測(ce)試(shi)要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，國產日韓歐美:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小(xiao)間距還是大電(dian)流(liu)(liu)，大電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)都有(you)很(hen)(hen)好(hao)的(de)(de)(de)應對方法(fa)。pitch在(zai)該領域(yu)，大電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)是可取的(de)(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定靠譜。面對大電(dian)流(liu)(liu)測試(shi)要求，大電(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)可通(tong)過的(de)(de)(de)額定電(dian)流(liu)(liu)大到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)(liu)衰減(jian)，具(ju)有(you)良好(hao)的(de)(de)(de)連接(jie)功能，可以很(hen)(hen)大限度地保障3C鋰(li)電(dian)池測試(shi)的(de)(de)(de)穩定性(xing)。

　　就使用壽命(ming)而言(yan)，pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)在于(yu)5w大(da)電流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的試(shi)驗壽命(ming)約為20w以(yi)上，比較pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)整(zheng)(zheng)整(zheng)(zheng)多了(le)四倍(bei)！pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)為多組件結(jie)構，生(sheng)產(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)難度高，交(jiao)貨(huo)周期長(chang)；大(da)型電流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)為一體化彈片結(jie)構，輕、扁平，可根據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)難度低，交(jiao)貨(huo)周期短。相比之(zhi)下，大(da)型電流(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的成(cheng)本性能并不太高！

　　對(dui)(dui)比母(mu)座測試(shi)良率(lv)，pogopin探針模組針對(dui)(dui)BTB連接(jie)器母(mu)座幾乎無法實(shi)現，穩定性極差。大部(bu)分(fen)采用觸(chu)摸方(fang)案對(dui)(dui)應，母(mu)座測試(shi)良率(lv)不到80%；母(mu)座上有一(yi)種(zhong)特別(bie)的(de)大電流彈(dan)片微針模塊對(dui)(dui)應方(fang)法。將斜口型(xing)(xing)（也稱尖(jian)頭型(xing)(xing)）彈(dan)片頭插入(ru)連接(jie)器內端(duan)子，以保(bao)持一(yi)定的(de)開(kai)度，從而保(bao)障彈(dan)片的(de)接(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)觸(chu)面(mian)BTB連接(jie)器端(duan)子兩側保(bao)持接(jie)觸(chu)狀態，使(shi)測試(shi)穩定，母(mu)座測試(shi)良率(lv)高(gao)達(da)99.8%。

　
　大電流彈片(pian)微(wei)針模塊測(ce)試(shi)效(xiao)率高，穩定性好。與同一產品測(ce)試(shi)前后相比，連接器基本上看不(bu)(bu)到刺痕，不(bu)(bu)會對產品造成任何損壞pogopin探(tan)針電池測(ce)試(shi)模塊更值得(de)選擇和信賴。