我們常看到的(de)一些3C產品，里面都有安(an)(an)裝鋰電(dian)(dian)池(chi)，鋰電(dian)(dian)池(chi)具(ju)有高能(neng)量密度(du)、高電(dian)(dian)壓(ya)、壽命長(chang)、無記(ji)憶效(xiao)應等優點，是21世(shi)紀發(fa)展的(de)理(li)想電(dian)(dian)源。鋰電(dian)(dian)池(chi)可廣泛應用于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)腦、可穿戴設備等領(ling)域3C鋰電(dian)(dian)池(chi)3C鋰電(dian)(dian)池(chi)容易因(yin)短路、過充等原因(yin)燒毀或爆炸，所(suo)以(yi)很危險(xian)3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)(shi)是鋰電(dian)(dian)池(chi)制造和(he)組裝的(de)重(zhong)要環節(jie)，是實現鋰電(dian)(dian)池(chi)性(xing)(xing)能(neng)和(he)安(an)(an)全靠(kao)譜使用的(de)有力保(bao)障，3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試(shi)(shi)項目主要包括一致性(xing)(xing)、功(gong)能(neng)性(xing)(xing)、安(an)(an)全性(xing)(xing)、靠(kao)譜性(xing)(xing)和(he)工況模擬。

　　3C鋰電(dian)(dian)池測試(shi)對電(dian)(dian)池測試(shi)模(mo)塊的選擇很重要(yao)。目前市場上廣泛使用的電(dian)(dian)池測試(shi)模(mo)塊有兩種，一(yi)種是(shi)(shi)凱(kai)智通(tong)大電(dian)(dian)流彈片微針模(mo)塊，另一(yi)種是(shi)(shi)pogo pin探針模(mo)塊。通(tong)過比(bi)較兩者的優缺(que)點，我(wo)們(men)可(ke)以更直(zhi)觀地區分(fen)哪一(yi)個更符合要(yao)求3C鋰電(dian)(dian)池測試(shi)要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，國產日韓歐美:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論(lun)面(mian)對(dui)小間距還是大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)針模塊都有很好的(de)應對(dui)方(fang)法。pitch在(zai)該領域，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)針模塊是可取的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)(ding)靠譜。面(mian)對(dui)大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)測(ce)試要求，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)彈片微(wei)針模塊可通過的(de)額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)大(da)(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)(ding)，幾乎(hu)沒有電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)衰(shuai)減(jian)，具有良好的(de)連(lian)接功能，可以很大(da)(da)(da)限度地保障(zhang)3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試的(de)穩定(ding)(ding)性。

　　就使用壽命而言，pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊的試(shi)驗壽命在(zai)于5w大電流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊的試(shi)驗壽命約(yue)為20w以上，比較pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊整整多(duo)了四倍！pogopin探針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊為多(duo)組(zu)件(jian)結(jie)構，生產工藝(yi)復雜，生產難(nan)度高，交(jiao)貨周期長；大型(xing)電流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊為一體化彈(dan)片(pian)結(jie)構，輕、扁平，可根(gen)據客戶要求定(ding)制(zhi)，生產難(nan)度低(di)，交(jiao)貨周期短。相比之(zhi)下，大型(xing)電流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊的成本(ben)性能并不太(tai)高！

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率，pogopin探針(zhen)模(mo)組針(zhen)對BTB連(lian)接(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)幾乎(hu)無法實現，穩(wen)定(ding)性極(ji)差。大部分采用(yong)觸摸方(fang)案對應，母(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率不到80%；母(mu)座(zuo)上有一(yi)種特(te)別的(de)大電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)塊(kuai)對應方(fang)法。將斜口型（也(ye)稱尖頭型）彈(dan)片(pian)頭插入連(lian)接(jie)器(qi)內端子(zi)(zi)，以保(bao)持一(yi)定(ding)的(de)開度，從而保(bao)障彈(dan)片(pian)的(de)接(jie)觸面和接(jie)觸面BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子(zi)(zi)兩側保(bao)持接(jie)觸狀態，使測試(shi)(shi)(shi)穩(wen)定(ding)，母(mu)座(zuo)測試(shi)(shi)(shi)良(liang)(liang)率高達99.8%。

　
　大(da)電(dian)流彈片微針模塊(kuai)測(ce)試(shi)效率高(gao)，穩(wen)定性好。與(yu)同一(yi)產品(pin)測(ce)試(shi)前后(hou)相比，連接器基本上看(kan)不到刺痕，不會對產品(pin)造成任何損(sun)壞pogopin探(tan)針電(dian)池測(ce)試(shi)模塊(kuai)更值得選(xuan)擇和(he)信賴。