21世紀發(fa)展的(de)理想電(dian)源。鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)腦(nao)、筆(bi)記本(ben)電(dian)腦(nao)、可穿(chuan)戴設(she)備等領域，鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)具(ju)有能(neng)(neng)量密度高、電(dian)壓(ya)高、壽命長(chang)、無(wu)記憶效應等優點，3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)是容易因短路、過充等原(yuan)因燒毀或爆炸，所以很危(wei)險3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)制造(zao)和組(zu)裝的(de)重要環節，是實現鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)(xing)能(neng)(neng)和安全靠譜使(shi)用(yong)的(de)有力保(bao)障。3C鋰(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試項目主要包(bao)括(kuo)一致性(xing)(xing)、功能(neng)(neng)性(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)、可靠性(xing)(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是國產日韓歐美:pogopin探(tan)針模塊。通過比較(jiao)兩者(zhe)的優缺點，我(wo)們(men)可以更直觀地(di)區分(fen)哪(na)一個(ge)更符合要(yao)求(qiu)3C鋰電池測(ce)試要(yao)求(qiu)。

　　從(cong)目前的(de)市場趨勢來看，3C電(dian)子產(chan)品內部空(kong)間(jian)集成度高，pitch不(bu)斷(duan)縮(suo)小，pogopin探(tan)針(zhen)模組在(zai)(zai)小pitch該領(ling)域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽命和穩定(ding)性差。3C鋰電(dian)池測試對(dui)電(dian)流的(de)需求很大，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)能承載的(de)額定(ding)電(dian)流僅(jin)為1A，在(zai)(zai)傳輸過程中，電(dian)流會在(zai)(zai)不(bu)同位衰減，導致連接(jie)不(bu)穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片微(wei)針模組無論是面(mian)對小間距還是大(da)(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，都有很(hen)好(hao)(hao)的(de)(de)應對方法。在小pitch在該領域，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片微(wei)針模塊(kuai)是可(ke)取的(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能穩(wen)定可(ke)靠(kao)。面(mian)對大(da)(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試要求，大(da)(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片微(wei)針模塊(kuai)可(ke)通過的(de)(de)額定電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具有良好(hao)(hao)的(de)(de)連接功能，可(ke)以很(hen)大(da)(da)(da)限度地(di)保障3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試的(de)(de)穩(wen)定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽命(ming)而言(yan)，pogopin探針模(mo)塊的(de)(de)試驗壽命(ming)在(zai)于5w大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針模(mo)組的(de)(de)試驗壽命(ming)約為20w以(yi)上，比較pogopin探針模(mo)塊整(zheng)整(zheng)多了四(si)倍!況且pogo pin探針模(mo)塊為多組件(jian)結(jie)構，生產(chan)工藝(yi)復雜，生產(chan)難(nan)度高(gao)，交貨期長;大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針模(mo)組是一種(zhong)集成彈(dan)片結(jie)構，輕、扁(bian)平(ping)，可根據客戶要求定(ding)制，生產(chan)難(nan)度低，交貨期短(duan)。相比之下，通大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針模(mo)組的(de)(de)成本性能并不太高(gao)!

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良(liang)率(lv)，pogopin針(zhen)對探針(zhen)模(mo)(mo)塊BTB連接器母(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無(wu)法(fa)實現，穩定性(xing)極(ji)差(cha)。大部分采用觸摸(mo)方案對應(ying)，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良(liang)率(lv)不到80%;母(mu)座(zuo)(zuo)上(shang)有一種特別的通大電(dian)流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)(mo)組對應(ying)方法(fa)。將斜口型(xing)(也(ye)稱(cheng)尖頭型(xing))彈(dan)(dan)片(pian)頭插入連接器內端子(zi)，以保(bao)持一定的開度(du)，從而(er)保(bao)障彈(dan)(dan)片(pian)的接觸面(mian)和(he)接觸面(mian)BTB連接器端子(zi)兩側保(bao)持接觸狀態，使測(ce)(ce)試穩定，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)(ce)試良(liang)率(lv)達(da)到99.8%。

　　大(da)電流(liu)彈片微針模(mo)組測試效率高，穩定性好。與同一產品(pin)測試前后相比，連接(jie)器(qi)基本上看不(bu)到(dao)刺痕，不(bu)會對產品(pin)造成任何損壞pogo pin電池測試模(mo)塊更值(zhi)得選擇和信賴。