21世紀發展的(de)理想電(dian)源。鋰(li)電(dian)池(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被稱(cheng)為手機、平(ping)板電(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)腦、可穿戴(dai)設備(bei)等(deng)領域，鋰(li)電(dian)池(chi)具有能(neng)(neng)量密度高(gao)、電(dian)壓高(gao)、壽命(ming)長(chang)、無記(ji)憶效應等(deng)優點(dian)，3C鋰(li)電(dian)池(chi)是容易因短路、過充等(deng)原(yuan)因燒(shao)毀或爆(bao)炸，所以很危險3C鋰(li)電(dian)池(chi)測試是鋰(li)電(dian)池(chi)制(zhi)造(zao)和(he)組裝(zhuang)的(de)重要環節，是實現鋰(li)電(dian)池(chi)性(xing)(xing)能(neng)(neng)和(he)安全(quan)靠(kao)譜使用(yong)的(de)有力保(bao)障。3C鋰(li)電(dian)池(chi)測試項目主(zhu)要包(bao)括一致性(xing)(xing)、功能(neng)(neng)性(xing)(xing)、安全(quan)性(xing)(xing)、可靠(kao)性(xing)(xing)和(he)工況模(mo)擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是國產日韓歐美:pogopin探(tan)針模塊。通(tong)過(guo)比較兩者的優缺點，我們可以更直觀(guan)地(di)區(qu)分哪一個(ge)更符合要求(qiu)3C鋰電池(chi)測(ce)試要求(qiu)。

　　從目前的(de)市(shi)場趨勢(shi)來看，3C電子產品內部(bu)空(kong)間(jian)集成(cheng)度高，pitch不(bu)斷縮小，pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模組在小pitch該(gai)領(ling)域適(shi)應性(xing)差(cha)，只(zhi)能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽(shou)命和穩(wen)(wen)定(ding)性(xing)差(cha)。3C鋰電池測試對(dui)電流的(de)需求(qiu)很大，pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊能承載的(de)額定(ding)電流僅(jin)為(wei)1A，在傳(chuan)輸過(guo)程中，電流會在不(bu)同位衰減，導(dao)致連(lian)接不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針模組(zu)無論是(shi)面對小間距(ju)還是(shi)大(da)(da)(da)電流(liu)，都有很好(hao)的(de)應(ying)對方法。在(zai)小pitch在(zai)該領域(yu)，大(da)(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針模塊是(shi)可(ke)(ke)(ke)取的(de)pitch值(zhi)在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定可(ke)(ke)(ke)靠。面對大(da)(da)(da)電流(liu)測試要求(qiu)，大(da)(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片(pian)微(wei)針模塊可(ke)(ke)(ke)通過的(de)額(e)定電流(liu)大(da)(da)(da)到50A，在(zai)1-50A電阻(zu)恒定，幾(ji)乎沒有電流(liu)衰減(jian)，具(ju)有良好(hao)的(de)連接功(gong)能，可(ke)(ke)(ke)以很大(da)(da)(da)限(xian)度(du)地保障3C鋰電池測試的(de)穩定性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽(shou)命(ming)而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)壽(shou)命(ming)在于5w大(da)電流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組(zu)的試(shi)(shi)驗(yan)(yan)壽(shou)命(ming)約為(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)整整多了四(si)倍!況且pogo pin探針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)為(wei)多組(zu)件(jian)結(jie)構(gou)，生(sheng)產工藝復雜(za)，生(sheng)產難(nan)度高，交(jiao)(jiao)貨(huo)期長;大(da)電流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組(zu)是一種集成彈片(pian)結(jie)構(gou)，輕(qing)、扁平(ping)，可根據客戶要求(qiu)定制，生(sheng)產難(nan)度低(di)，交(jiao)(jiao)貨(huo)期短。相(xiang)比之下，通大(da)電流(liu)(liu)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組(zu)的成本性能并不太高!

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率，pogopin針對探針模塊BTB連(lian)(lian)接(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)幾(ji)乎無法(fa)實(shi)現，穩定性極差。大(da)部分采用觸(chu)摸方(fang)案對應(ying)，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率不(bu)到80%;母(mu)座(zuo)上有一種特別的(de)通大(da)電流彈片微針模組對應(ying)方(fang)法(fa)。將斜口(kou)型(也稱尖頭型)彈片頭插入連(lian)(lian)接(jie)器(qi)內端(duan)子(zi)，以保(bao)持(chi)一定的(de)開度，從而保(bao)障彈片的(de)接(jie)觸(chu)面和(he)接(jie)觸(chu)面BTB連(lian)(lian)接(jie)器(qi)端(duan)子(zi)兩側保(bao)持(chi)接(jie)觸(chu)狀態，使測(ce)試(shi)穩定，母(mu)座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率達到99.8%。

　　大(da)電流彈片微針(zhen)模(mo)組測試效率(lv)高，穩定(ding)性好(hao)。與同一產(chan)品測試前后相比，連接器基本上看不到刺痕，不會對產(chan)品造成任何損(sun)壞pogo pin電池(chi)測試模(mo)塊更值得選擇和信賴。